微光顯微鏡 EMMI 作為一種高靈敏度的半導(dǎo)體失效分析工具，其價格體現(xiàn)了設(shè)備所具備的先進(jìn)技術(shù)和高性能指標(biāo)。價格因素通常涵蓋了制冷探測器、顯微...
紅外熱成像是鎖相熱成像技術(shù)（LIT）實現(xiàn)其功能的基礎(chǔ)，專注于非接觸式地捕捉物體表面的熱輻射信息并轉(zhuǎn)化為可視化圖像。通過高靈敏度紅外探測器，系...
EMMI測試特指利用微光顯微鏡系統(tǒng)對半導(dǎo)體器件進(jìn)行的一項具體的檢測操作。測試流程通常包括：將待測器件安裝在測試臺上，連接探針或測試插座施加特...
在PCBA檢測領(lǐng)域，鎖相熱成像技術(shù)展現(xiàn)出優(yōu)越的缺陷識別能力。通過對PCBA施加周期性激勵，實時捕獲其熱響應(yīng)信號，系統(tǒng)能夠精確發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)缺陷、短...
蘇州致晟光電科技有限公司專注于高靈敏度紅外檢測與微弱光電信號分析技術(shù)的研發(fā)，依托南京理工大學(xué)電子工程與光電技術(shù)學(xué)院的科研優(yōu)勢，致力于前沿技術(shù)的自主創(chuàng)新。 公司產(chǎn)品涵蓋長波非制冷鎖相紅外顯微鏡、中波制冷鎖相紅外顯微鏡、近紅外微光顯微鏡等，該設(shè)備廣泛的應(yīng)用于電子集成電路和半導(dǎo)體器件，如先進(jìn)封裝、 Wafer、IGBT 、IC、MEMS、 PCB、PCBA、FPC、LED、 電容、電感等失效分析及缺陷定位，為行業(yè)提供前沿的解決方案。
