ZPAT 是一種基于統(tǒng)計(jì)學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過(guò)在晶圓測(cè)試階段識(shí)別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實(shí)際的應(yīng)用過(guò)程中需要通過(guò)疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過(guò)特定的算法從而評(píng)估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶(hù)應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶(hù)高度的靈活性與強(qiáng)大的分析能力，使其能夠通過(guò)一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計(jì)控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動(dòng)態(tài)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制的智能質(zhì)量防線(xiàn)。 失效Die的空間分布特征是判斷工藝問(wèn)題的關(guān)鍵依據(jù)，指導(dǎo)制程參數(shù)優(yōu)化。江蘇自動(dòng)化GDBC系統(tǒng)定制

半導(dǎo)體制造過(guò)程中，良率數(shù)據(jù)的時(shí)效性與準(zhǔn)確性直接決定工藝優(yōu)化的效率。YMS系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)采集ASL1000、SineTest、MS7000等測(cè)試平臺(tái)生成的多源數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理，消除因格式混亂或信息缺失導(dǎo)致的分析盲區(qū)。系統(tǒng)建立的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)，使生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)能夠從時(shí)間軸觀察良率波動(dòng)規(guī)律，或聚焦特定晶圓區(qū)域識(shí)別系統(tǒng)性缺陷，從而快速鎖定異常工序。SYL與SBL參數(shù)的自動(dòng)計(jì)算與閾值卡控，為過(guò)程質(zhì)量提供前置預(yù)警。同時(shí)，系統(tǒng)內(nèi)置的報(bào)表引擎可一鍵生成周期性分析簡(jiǎn)報(bào)，并以PPT、Excel或PDF形式輸出，便于管理層掌握產(chǎn)線(xiàn)健康狀態(tài)。這種數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的管理模式，明顯提升了制造穩(wěn)定性與決策效率。上海偉諾信息科技有限公司專(zhuān)注半導(dǎo)體行業(yè)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，其YMS產(chǎn)品正助力制造企業(yè)邁向精細(xì)化運(yùn)營(yíng)。青海自動(dòng)化MappingOverInk處理Mapping Over Ink處理因數(shù)據(jù)分析自動(dòng)化大幅提升效率，縮短封測(cè)周期時(shí)間。

良率異常若依賴(lài)人工逐項(xiàng)排查，常需跨多個(gè)系統(tǒng)比對(duì)數(shù)據(jù)，耗時(shí)且易遺漏關(guān)鍵線(xiàn)索。YMS自動(dòng)匯聚來(lái)自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫(kù)，并以熱力圖、趨勢(shì)曲線(xiàn)等形式直觀展示缺陷分布與良率波動(dòng)。當(dāng)某批次FT良率下降時(shí)，工程師可快速調(diào)取對(duì)應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線(xiàn)偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時(shí)內(nèi)，大幅減少試錯(cuò)成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力，讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問(wèn)題的關(guān)鍵工具。

面對(duì)國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體制造對(duì)自主可控軟件的迫切需求，良率管理系統(tǒng)成為打通數(shù)據(jù)孤島、實(shí)現(xiàn)質(zhì)量閉環(huán)的關(guān)鍵工具。系統(tǒng)自動(dòng)采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平臺(tái)輸出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多種格式測(cè)試數(shù)據(jù)，通過(guò)內(nèi)置算法識(shí)別重復(fù)項(xiàng)、缺失值并過(guò)濾異常記錄，確保后續(xù)分析基于高可信度數(shù)據(jù)源。在標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫(kù)支撐下，企業(yè)可從時(shí)間維度追蹤良率趨勢(shì)，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝波?dòng)點(diǎn)。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動(dòng)分析，進(jìn)一步揭示影響良率的深層原因。SYL與SBL的自動(dòng)計(jì)算與卡控機(jī)制，強(qiáng)化了過(guò)程質(zhì)量防線(xiàn)。靈活的報(bào)表工具支持按模板生成日?qǐng)?bào)、周報(bào)、月報(bào)，并導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式，提升跨部門(mén)協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來(lái)，專(zhuān)注打造適配本土需求的YMS系統(tǒng)，助力構(gòu)建中國(guó)半導(dǎo)體軟件生態(tài)。Mapping Over Ink處理方案不依賴(lài)國(guó)外軟件，具備完全自主可控的技術(shù)特性。

在晶圓制造過(guò)程中，制程偏差是導(dǎo)致良率損失的主要因素之一，其典型表現(xiàn)即為晶圓上Die的區(qū)域性集群失效。此類(lèi)失效并非隨機(jī)分布，而是呈現(xiàn)出與特定制程弱點(diǎn)緊密相關(guān)的空間模式，例如由光刻熱點(diǎn)、CMP不均勻或熱應(yīng)力集中所導(dǎo)致的失效環(huán)、邊緣帶或局部區(qū)塊。然而，一個(gè)更為隱蔽且嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)在于，在這些完全失效的Die周?chē)?，往往存在一個(gè)“受影響區(qū)”。該區(qū)域內(nèi)的Die雖然未發(fā)生catastrophicfailure，其內(nèi)部可能已產(chǎn)生參數(shù)漂移或輕微損傷，在常規(guī)的CP測(cè)試中，它們?nèi)阅軡M(mǎn)足規(guī)格下限而呈現(xiàn)出“Pass”的結(jié)果。這些潛在的“薄弱芯片”在初期測(cè)試中得以幸存，但其在后續(xù)封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用的嚴(yán)苛環(huán)境下，早期失效的風(fēng)險(xiǎn)將明細(xì)高于正常芯片。為了將這類(lèi)“過(guò)測(cè)”的潛在失效品精確識(shí)別并剔除，避免其流出至客戶(hù)端成為可靠性隱患，常規(guī)的良率分析已不足以應(yīng)對(duì)。必須借助特定的空間識(shí)別算法，對(duì)晶圓測(cè)試圖譜進(jìn)行深度處理。

上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能提供精確的算法能夠通過(guò)分析失效集群的空間分布與形態(tài)，智能地推斷出工藝影響的波及范圍，并據(jù)此將失效區(qū)周?chē)欢ǚ秶鷥?nèi)的“PassDie”也定義為高風(fēng)險(xiǎn)單元并予以剔除。這一操作是構(gòu)建高可靠性產(chǎn)品質(zhì)量防線(xiàn)中至關(guān)重要的一環(huán)。 Mapping Over Ink處理推動(dòng)封測(cè)環(huán)節(jié)向預(yù)測(cè)性質(zhì)量演進(jìn)，實(shí)現(xiàn)主動(dòng)風(fēng)險(xiǎn)管理。吉林MappingOverInk處理工具

上海偉諾信息科技SPAT功能，通過(guò)結(jié)合測(cè)試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。江蘇自動(dòng)化GDBC系統(tǒng)定制

面對(duì)國(guó)產(chǎn)替代需求，選擇具備技術(shù)自主性和行業(yè)適配能力的良率管理系統(tǒng)廠商至關(guān)重要。上海偉諾信息科技有限公司的YMS系統(tǒng)兼容主流Tester平臺(tái)，覆蓋十余種測(cè)試數(shù)據(jù)格式，實(shí)現(xiàn)從采集、解析到異常過(guò)濾的全流程自動(dòng)化。其分析引擎支持時(shí)間序列追蹤、晶圓區(qū)域?qū)Ρ燃癢AT/CP/FT參數(shù)聯(lián)動(dòng)，精確識(shí)別影響良率的關(guān)鍵因素。SYL/SBL卡控與靈活報(bào)表導(dǎo)出功能，進(jìn)一步強(qiáng)化過(guò)程管控與決策支持。更重要的是，系統(tǒng)背后有完整的實(shí)施與服務(wù)體系支撐，確保從部署到優(yōu)化的每個(gè)環(huán)節(jié)可靠落地。這種“軟硬協(xié)同”的能力，使YMS在國(guó)產(chǎn)軟件生態(tài)中具備強(qiáng)大競(jìng)爭(zhēng)力。偉諾依托多年項(xiàng)目積累，持續(xù)驗(yàn)證其作為本土良率管理解決方案提供者的專(zhuān)業(yè)價(jià)值。江蘇自動(dòng)化GDBC系統(tǒng)定制

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場(chǎng)高度，多年以來(lái)致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績(jī)讓我們喜悅，但不會(huì)讓我們止步，殘酷的市場(chǎng)磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營(yíng)養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開(kāi)拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無(wú)限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來(lái)，回首過(guò)去，我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績(jī)而沾沾自喜，相反的是面對(duì)競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越激烈的市場(chǎng)氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來(lái)！