本設(shè)備集成電致發(fā)光（EL）與可見光雙模態(tài)檢測(cè)技術(shù)，在暗室環(huán)境下對(duì)通電組件施加恒定電流激發(fā)內(nèi)部光子輻射，通過高量子效率工業(yè)相機(jī)同時(shí)獲取EL圖像與表面可見光圖像，依托深度學(xué)習(xí)算法實(shí)現(xiàn)隱裂、碎片、斷柵、虛焊、黑芯片等內(nèi)部缺陷，以及劃傷、崩邊、臟污、色差、焊帶偏移等外觀瑕疵的自動(dòng)識(shí)別、準(zhǔn)確定位與量化分級(jí)，為光伏組件全生命周期質(zhì)量管控提供無損檢測(cè)解決方案。

核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)

• 雙模態(tài)融合檢測(cè)架構(gòu)
單臺(tái)設(shè)備同時(shí)完成EL電致發(fā)光檢測(cè)與可見光外觀檢測(cè)，無需二次搬運(yùn)與重復(fù)定位。EL模式可識(shí)別0.03 mm級(jí)微裂紋、碎片、虛焊、斷柵、黑芯片等內(nèi)部缺陷；可見光模式檢出表面劃傷、崩邊、異物、色差、封裝氣泡、焊帶偏移等外觀不良，實(shí)現(xiàn)單工序全覆蓋。

• AI驅(qū)動(dòng)的智能判級(jí)系統(tǒng)
搭載6000萬像素EL相機(jī)與2.4億像素可見光相機(jī)陣列，結(jié)合毫秒級(jí)圖像獲取與邊緣計(jì)算能力，通過卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)（CNN）缺陷識(shí)別模型，自動(dòng)完成缺陷分類、尺寸測(cè)量與嚴(yán)重程度評(píng)分，誤判率<2%，漏檢率<0.5%，顯著降低人工復(fù)判成本。

• 產(chǎn)線級(jí)高速檢測(cè)節(jié)拍
支持在線自動(dòng)上下料與8相機(jī)面陣同時(shí)拍攝，圖像獲取時(shí)間100-700ms可調(diào)，整機(jī)檢測(cè)周期<12秒/件，滿足主流產(chǎn)線>6000件/班的產(chǎn)能需求，實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制與生產(chǎn)效率的平衡。

• 數(shù)據(jù)閉環(huán)與工藝追溯
自動(dòng)生成帶缺陷坐標(biāo)映射的檢測(cè)報(bào)告，支持MES系統(tǒng)實(shí)時(shí)上傳與SPC統(tǒng)計(jì)預(yù)警。通過缺陷熱力圖分析，可反向追溯層壓、串焊、排版等前道工序的工藝偏差，形成質(zhì)量改善閉環(huán)。

技術(shù)參數(shù)

典型應(yīng)用場(chǎng)景

1. 產(chǎn)線端在線全檢
部署于層壓后終檢工位，對(duì)每塊組件實(shí)施EL+外觀雙重檢測(cè)，自動(dòng)攔截內(nèi)部缺陷與表面瑕疵品。通過實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)反饋，可動(dòng)態(tài)調(diào)整前道串焊機(jī)、排版機(jī)參數(shù)，將綜合不良率控制在0.5%以內(nèi)，是確保出廠質(zhì)量的核心防線。

2. 實(shí)驗(yàn)室失效分析
適用于研發(fā)實(shí)驗(yàn)室與第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，對(duì)電池片來料、制程樣片、可靠性測(cè)試后的組件進(jìn)行高精度缺陷分析�？啥�量評(píng)估熱循環(huán)、機(jī)械載荷、PID老化等測(cè)試對(duì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的損傷程度，支持IEC 61215/61730認(rèn)證報(bào)告中的缺陷項(xiàng)判定。

3. 電站現(xiàn)場(chǎng)診斷
配合便攜或移動(dòng)式EL檢測(cè)方案，在電站建設(shè)期檢測(cè)搬運(yùn)與安裝導(dǎo)致的隱裂損傷，在運(yùn)維期通過EL圖像快速定位熱斑、短路、子串失效等問題組件，結(jié)合IV測(cè)試數(shù)據(jù)評(píng)估故障對(duì)發(fā)電量的影響，指導(dǎo)準(zhǔn)確更換策略。

4. 研發(fā)與新材料導(dǎo)入驗(yàn)證
服務(wù)于TOPCon、HJT、BC電池等新技術(shù)路線，評(píng)估新型膠膜、焊帶、玻璃在層壓工藝中的適配性，通過缺陷分布規(guī)律分析優(yōu)化工藝窗口，縮短新產(chǎn)品導(dǎo)入周期，降低試錯(cuò)成本。